LNEYA Industrial Chillers Fabricant Fournisseur
Application du thermostat de refroidissement et de chauffage dans le test de simulation des composants électroniques
Avec le développement de l'industrie des composants semi-conducteurs, les tests de performance de divers composants électroniques dans des environnements complexes sont devenus importants. La machine d'essai à haute et basse température est un type d'équipement spécialement utilisé pour simuler et tester les performances des composants électroniques dans divers environnements. équipement.
Une machine d'essai à haute et basse température est un dispositif qui permet de simuler et de tester les performances des composants électroniques dans des environnements à haute et basse température dans un court laps de temps. La machine de test à haute et basse température est principalement composée d'un système de contrôle de la température, d'une plateforme de test et d'un système d'acquisition de données. Elle peut contrôler la plage de température entre -45℃~125℃, et surveiller et enregistrer divers indicateurs de performance des composants testés en temps réel.
Avec le développement de l'industrie des composants semi-conducteurs, les tests de performance de divers composants électroniques dans des environnements complexes sont devenus importants. La machine d'essai à haute et basse température est un type d'équipement spécialement utilisé pour simuler et tester les performances des composants électroniques dans divers environnements. équipement.
Une machine d'essai à haute et basse température est un dispositif qui permet de simuler et de tester les performances des composants électroniques dans des environnements à haute et basse température dans un court laps de temps. La machine de test à haute et basse température est principalement composée d'un système de contrôle de la température, d'une plateforme de test et d'un système d'acquisition de données. Elle peut contrôler la plage de température entre -45℃~125℃, et surveiller et enregistrer divers indicateurs de performance des composants testés en temps réel.
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