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Left & Right Multi-layer Test Chamber

Chambre d'essai multicouche gauche et droite

CANDIDATURES

Left and right multi-layer test chambers provide temperature range -80℃~+150℃ wide temperature range temperature control, no-load temperature uniformity ±1℃, temperature accuracy ±0.1℃, to meet the needs of diverse scenarios.

Mode

GD-518-2-C-DC

nside
dimensions
(W*H*D)
Left cavity cm 60*124.5*65
Right cavity cm 60*124.5*65
Plage de température  -80℃~150℃
Heating rate (No load) -40 ℃ →+125 ℃ 1 ℃/min (customizable for 5-25 ℃)
Taux de refroidissement (No load) 125 ℃ → -40 ℃ 1 ℃/min (customizable for 5-25 ℃)
Temperature uniformity ≤±1℃(unloaded)
Précision de la température ≤±0.1℃
Cryogène R404A/R23
Chauffage Electric heating
Condenser(A) finned heat exchanger
Condenser(W) plate/sleeve/shell and tube heat exchanger
Air circulation Extended shaft motor, stainless steel centrifugal fan blades
Méthode de refroidissement Cascade refrigeration
Compresseur Brand variable frequency compressor
Control method Segmented Fuzzy PID Algorithm Control
Communication protocol interface TCP/RS485 (CAN customizable)
Panneau de commande 7-inch color touch screen, temperature curve display \ EXCEL data export
Sensors PT100 A-grade platinum resistor
Protector Heater dual temp protection, refrigeration system protection, and electrical overcurrent and overload protection, etc
Outer box size (W*H*D) cm 409*236*175
Alimentation électrique 380V 50HZ
Insulation material Glass fiber cotton&polyurethane
Inner box material SUS304 stainless steel
Outer box material Cold-rolled steel plate+spray coating
Execution standards GB/T 2423.1;GB/T 2423.2;GB/T 2423.3;GB/T 2423.4;GB/T 5170.2;GB/T 5170.5;GB/T 11158;GB/T 10589;GB/T 10592; GB/T 10586;IEC 60068-3-5

 

CANDIDATURES

Unité de contrôle de la température du processus FAB de semi-conducteurs

La fabrication de semi-conducteurs est un processus soumis à des exigences environnementales extrêmement élevées, et de nombreuses étapes du processus sont très sensibles à la température.
Un contrôle précis de la température peut garantir une épaisseur uniforme et une composition exacte des films déposés, améliorant ainsi les performances et le rendement des puces.

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Temperature Control Solutions for Semiconductor packaging and testing process

Le processus d'emballage et d'essai des semi-conducteurs est un maillon essentiel du processus de production des semi-conducteurs, qui comprend l'essai des plaquettes, l'emballage des puces et l'essai après emballage. Ce processus exige non seulement un degré élevé de précision et de fiabilité, mais aussi un contrôle strict de la température pour garantir la qualité et les performances du produit.

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Depuis notre création en 2006Nous avons servi plus de 30 000 clients et détiennent plusieurs brevets qui témoignent de notre innovation et de notre fiabilité. Nos refroidisseurs sont sélectionnés pour plus de 100 université de laboratoires dans le monde entier et exportés dans plus de 20 pays. Nous garantissons la plus haute qualité grâce à une 3 étapes un processus de contrôle de la qualité : inspection visuelle, tests de performance et tests de sécurité électrique. Notre engagement en faveur de l'excellence est renforcé par nos Client 24/7 engagement de soutien. En outre, nous avons des agents aux États-Unis, au Canada, en Australie, en Russie et en Corée du Sud, ce qui fait de nous un partenaire mondial de confiance pour vos besoins en refroidisseurs. Choisissez Lneya pour la qualité et le soutien de votre projet.
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