TES -45℃~250℃

Plage de contrôle de la température：-45°C ~ 250°C ；Gamme de puissance：2.5kW~25kW；Précision du contrôle de la température：±0.3°C

Boîtes de test haute et basse température spécifiques aux puces Dans la fabrication de composants électroniques semi-conducteurs pour environnements difficiles, les phases d'assemblage, d'ingénierie et de test de production de l'emballage des circuits intégrés comprennent des tests thermiques électroniques à des températures (de -85 °C à +200 °C) et dans d'autres environnements. Tester la simulation. Une fois mis en service, ces dispositifs à semi-conducteurs et ces produits électroniques peuvent être exposés à des conditions environnementales extrêmes afin de répondre aux normes de fiabilité militaires et de télécommunications.

  LNEYA représente la technologie internationale avancée de contrôle de la température des liquides, explore et étudie activement les systèmes de test des composants, principalement utilisés pour la simulation des tests de température dans les tests de semi-conducteurs, avec une large orientation de la température et une augmentation et une diminution importantes de la température, une plage de température de -92°C ~ 250°C, convenant à diverses exigences de test. LNEYA s'engage à résoudre le problème du décalage de contrôle de la température dans les composants électroniques. La technologie de refroidissement à ultra-haute température peut être refroidie directement à partir de 300°C.